導(dǎo)電材料是電子工業(yè)的基礎(chǔ),現(xiàn)在最主要的材料是銅,已大規(guī)模用于晶體管的互連導(dǎo)線。信息時代,計算機和智能設(shè)備體積越來越小,信號傳輸量爆炸式增長,芯片中上千萬細如發(fā)絲的晶體管互連導(dǎo)線“運送壓力”隨之加大。而當銅變得很薄,進入二維尺度時,電阻變大,導(dǎo)電性迅速變差,功耗大幅度增加。這也是制約芯片等集成電路技術(shù)進一步發(fā)展的重要瓶頸。
3月19日,復(fù)旦大學(xué)修發(fā)賢團隊最新研究論文《外爾半金屬砷化鈮納米帶中的超高電導(dǎo)率》發(fā)表在材料領(lǐng)域國際頂級期刊《自然·材料》。制備出二維體系中具有目前已知最高導(dǎo)電率的外爾半金屬材料-砷化鈮納米帶。這種新研制的砷化鈮納米帶材料,電導(dǎo)率是銅薄膜的100倍,石墨烯的1000倍。
我們的手機發(fā)熱、電腦發(fā)熱是有兩個原因,晶體管本身的發(fā)熱和電流流經(jīng)這些(互連)導(dǎo)線所產(chǎn)生的導(dǎo)線發(fā)熱,砷化鈮納米帶材料的應(yīng)用有望有效解決這個問題,讓我們的手機和電腦的數(shù)據(jù)處理功能變得更加強大。
文章內(nèi)容來自網(wǎng)絡(luò),如有侵權(quán)請聯(lián)系管理員
容大擁有一批在業(yè)內(nèi)取得顯著成就的專業(yè)技術(shù)人員,對行業(yè)內(nèi)的檢測需求理解較深,并且有豐富的檢測經(jīng)驗,本著精益求精的原則,針對不同樣品成立不同領(lǐng)域的技術(shù)小組進行分析、實驗,由相關(guān)專業(yè)經(jīng)驗最豐富的高級工程師擔任負責(zé)人。保證每個報告的準確性、嚴謹性。適用于鋼鐵企業(yè)、石化行業(yè)、科研院所、大專院校等部門的相關(guān)研究和測試。
容大檢測項目推薦
氫致開裂試驗(HIC試驗)SSC硫化氫腐蝕應(yīng)力導(dǎo)向氫致開裂(SOHIC)黃銅耐脫鋅腐蝕性能評定酸性鹽霧腐蝕試驗點腐蝕評價縫隙腐蝕API 622試驗API 624試驗