射線檢測(cè)中如何甄別偽像？如何預(yù)防偽像出現(xiàn)？

  射線檢測(cè)是無損檢測(cè)中最為常見的一種檢測(cè)方法，在射線檢測(cè)中，偽像又是經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)的一種情況，這里就來說說當(dāng)偽像出現(xiàn)的時(shí)候如何甄別，在操作的時(shí)候又如何防患于未然呢？

  在實(shí)際射線檢測(cè)過程中，常會(huì)在底片上遇到多種類型的偽像。偽像又稱假顯示，會(huì)直接影響到底片質(zhì)量，同時(shí)也會(huì)影響到評(píng)定結(jié)果的準(zhǔn)確性。

  GB/T3323、NB/T47013.2以及ASME第V卷等射線檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范都對(duì)底片上的偽像有嚴(yán)格的規(guī)定。存在偽像的底片通常需要進(jìn)行補(bǔ)照，造成人力和物力的浪費(fèi)，直接增加了檢測(cè)成本。今天我們就從膠片的制造、加工、透照和暗室處理等方面對(duì)偽像及其成因進(jìn)行學(xué)習(xí)。

  膠片的制造及存儲(chǔ)不當(dāng)造成的偽像

  1感光藥膜不均

  質(zhì)量較差的膠片有時(shí)會(huì)有底片黑度分布不均勻的情況發(fā)生，同批次的膠片黑度分布不均的現(xiàn)象有連續(xù)性，這是由感光藥膜不均引起的。

  2感光藥膜劃傷

  這種偽像有固定位置，在同一批膠片中有一定規(guī)律地出現(xiàn)，應(yīng)該是涂布藥膜設(shè)備上的顆粒附著物造成感光藥膜劃傷引起的。

  3感光藥膜脫落

  藥膜片狀脫落，底片上偽像顯示特征明顯。

  4霉點(diǎn)

  膠片在濕度大的環(huán)境中存放時(shí)，底片上會(huì)有很多細(xì)小的黑點(diǎn)（霉點(diǎn)），同批次的膠片多有同類現(xiàn)象發(fā)生。尤其對(duì)于裝入暗袋的膠片，要注意存放時(shí)間和環(huán)境，防止產(chǎn)生霉點(diǎn)。

  膠片裁、裝、拆不當(dāng)造成的偽像

  1夾紙（屏反）

  暗室的切片操作時(shí)要求帶襯紙，有時(shí)將膠片裝到暗袋時(shí)膠片會(huì)帶入襯紙，使底片上好像蒙上一塊黑紗，這樣的底片完全不具備評(píng)定條件，屏反指的是增感屏襯紙一面貼住了膠片，與夾紙的影像一樣。

  2劃痕

  與膠片（或底片）相關(guān)的任何過程中，如切片、裝片、拆片，暗室處理、底片整理等期間，膠片（或底片）受到尖銳物，如指甲、膠片尖角、器物尖角的輕微刮劃，底片上留下較為流暢的黑線影像，長(zhǎng)短不一，一般容易辨認(rèn)。但有的劃痕影響評(píng)定，尤其是對(duì)裂紋敏感性高的焊縫影像上存在劃痕，會(huì)掩蓋微細(xì)的裂紋影像，所以要將底片盡量判廢（重新補(bǔ)照）。

  3劃傷

  劃傷的性質(zhì)比劃痕嚴(yán)重，較重的刮劃導(dǎo)致乳劑膜被損壞，底片上該部位近于透明。

  暗袋及增感屏造成的偽像

  1漏光

  暗袋的蓋子掉落、損壞，暗袋損壞導(dǎo)致膠片局部曝光會(huì)造成漏光。尤其是氣溫低時(shí)，由于塑料的暗袋脆性大而容易產(chǎn)生獨(dú)特易分辨的影像。要注意輕拿輕放暗袋，用適合的箱子裝運(yùn)膠片以減少暗袋的形變。暗室操作人員在裝片之前以及作業(yè)人員布片之前均應(yīng)進(jìn)行檢查。

  2暗袋被破壞

  暗袋內(nèi)襯被撕裂，某些時(shí)候會(huì)形成類似“夾紙”的影像，這張“紙”被撕開的邊緣在底片上顯示較清晰。用手能感受到撕裂暗袋的不連續(xù)，從而可將該暗袋找出來更換掉。

  3屏折

  和折痕相似，如果暗袋中的增感屏受折，膠片也可能受折；凹進(jìn)去的增感屏折痕會(huì)產(chǎn)生較黑的影像（其形變使增感屏局部面積增加），能看到反射光；如果折痕破裂，會(huì)產(chǎn)生透明狀的折痕印跡。

  4屏臟

  如果增感屏臟了會(huì)導(dǎo)致局部增感作用失效，底片上對(duì)應(yīng)部位黑度有不同程度的降低，嚴(yán)重的出現(xiàn)透明的現(xiàn)象。反射光下可看到該偽像，檢查增感屏的對(duì)應(yīng)位置可發(fā)現(xiàn)增感屏上有臟污或是脫落。

  5粘鉛

  暗袋進(jìn)水導(dǎo)致增感屏上的鉛粘在膠片上，底片上會(huì)出現(xiàn)明顯的污跡。球罐在全景曝光時(shí)，要求暗蓋朝上布片，有的用塑料袋套上是為了防雨。